自贡大面积表面污染仪

卢瑟福实验：α粒子轰击金箔现象1；大多数α粒子能穿透金箔而不改变原来运动方向.现象2；一小部分α粒子改变原来的运动方向现象3；少数α粒子被弹了回来请你根据原子结构认识,分析以上现象原因.是三个空,只够写三句话的==1.大多数α粒子没有受到很大的外力作用,即其运行轨迹上没有遇到带电的、质量相对大的物质,是因为原子的正电荷和质量大部分集中在原子内部很小的一个点上；2.因为这一小部分α粒子受到了较强的电荷的作用力,原因是其运动轨迹距离原子核较近,受到的斥力较大；3.原因是正电荷与正电荷的排斥作用,这极少数α粒子的轨道经过原子核,而且原子核体积占原子很小的一部分,所以反弹的粒子数量也极少.简单点的话,就是1.α粒子通过原子内（或原子间）的空隙2.α粒子经过金原子核附近受斥力的作用3.α粒子撞击金原子核被弹回。重带子粒子一般是指比电子质量大得多的那些带电粒子。自贡大面积表面污染仪

α粒子为带电的重粒子，所以探测这种粒子的常见探测器有：1.栅网电离室测量的立体角为2π，适合于大面积样品的测量，特别是弱放射性α样品测量；但装置较复杂、成本高。2.正比计数器这种探测器结构简单、使用方便，但能量分辨比电离室差。3.闪烁探测器所用的闪烁体一般选用ZnS(Ag)晶体，也可用玻璃闪烁体。4.半导体探测器半导体α探测器目前所配用的探测器多为AuSi面垒和SiPIP，以及Si(Li)探测器。之所以得到广泛应用是因它有很高的能量分辨率，对5MeV的α粒子，可小于，而闪烁谱仪为≥3%(对150keV)。对面垒型半导体α谱仪重要的是选择比较好的工作电压，因为电压太低会使载流子速度变慢，导致能量分辨变差；电压太高，会增大噪声也使能量分辨变差。比较好的工作电压要由实验来确定。5.固体径迹探测器使用云母、塑料等一类材料，当α粒子打在这类材料上时，沿路径会产生损伤，经过化学处理后，这些损伤扩大成可在显微镜下观测的空洞；通过测量这些空调达到探测α粒子的目的。自贡大面积表面污染仪径迹探测器是直接记录粒子走过径迹图像的探测器。

主要由闪烁体、光的收集部件和光电转换器件组成的辐射探测器。当粒子进入闪烁体时，闪烁体的原子或分子受激而产生荧光。利用光导和反射体等光的收集部件使荧光尽量多地射到光电转换器件的光敏层上并打出光电子。这些光电子可直接或经过倍增后，由输出级收集而形成电脉冲。早在1903年就有人发现α粒子照射在硫化锌粉末上可产生荧光的现象。但是，直到1947年，将光电倍增管与闪烁体结合起来后才制成现代的闪烁探测器。很多物质都可以在粒子入射后而受激发光，因此闪烁体的种类很多,可以是固体、液体或气体。通常,按化学性质可分为无机闪烁体和有机闪烁体两大类。无机闪烁体固体的无机闪烁体一般是指含有少量混合物（***剂）的无机盐晶体。虽然用纯无机盐晶体也可作为闪烁体，但加了***剂后能明显提高发光效率。当闪烁体中原子的轨道电子从入射粒子接受大于其禁带宽度的能量时,便被激发跃迁至导带。然后,再经过一系列物理过程回到基态，根据退激的机制不同而发射出衰落时间很短的荧光（约10纳秒）或是较长的磷光（约1纳秒或更长）。**常用的无机晶体是用铊***的碘化钠晶体，即碘化钠（铊），比较大可做到直径500毫米以上。它有很高的发光效率和对γ射线的探测效率。

放射性αβ表面污染仪检定规程

范围：本规程适用于α、β表面污染仪的***检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。

本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及比较大能量小于60keV的β粒子测量或监测仪器的检定。

引用文件：本规程引用下列文件：

JJF 1001-2011 通用计量术语及定义

GB/T4960.1-2010 核科学技术术语 第1部分：核物理与核化学

GB/T 4960.6-2008 核科学技术术语 第6部分：核仪器仪表

GB/T 5202-2008 辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪 正比计数管是工作在气体放电正比区的辐射探测器。

闪烁体单次激发后，发射光子的速率下降到初始值的1/e所需的时间为τ（e=2.718…），λ=1/τ称为闪烁衰减常数。对于有机闪烁体τ=10-8至10-9s，无机闪烁体τ=10-5至10-7s，一般认为闪烁体的闪烁衰减用**函数来描述，对于有两个以上衰减成分组成的闪烁体，常给出平均衰减时间。闪烁衰减不仅与闪烁体种类有关，还与***剂、闪烁物质、移波剂的性质与含量、激发闪烁的方式（辐射种类）及闪烁体的温度有关。闪烁体受单次激发后，其光子发射率由比较大值10%上升到90%所需的时间，称为闪烁上升时间，而其光子发射率由比较大值的90%下降到10%所需的时间，称为闪烁下降时间。能量分辨率是说明对能量相近的入射γ射线的能量分辨本领的量。自贡大面积表面污染仪

检测放射性的仪器如何保养？自贡大面积表面污染仪

β和γ射线束通过吸收体后被减弱的程度可用下式表示:式中I0、I分别为射线束通过吸收体前后的强度值,ρ和d为吸收体的密度和厚度值,μm为吸收体对该射线束的质量吸收系数。测得射线束强度变化，即可由上式确定吸收体的厚度或密度。其应用有透射式同位素密度计、厚度计和料位计等。射线可使感光胶片感光，根据透过吸收体的射线使感光胶片的感光情况显示，可以进行射线照相探伤。散射β射线、γ射线与物质相互作用会产生散射，其散射角甚至可大于90°，散射的程度与散射体的厚度、密度及原子序数有关。根据这一效应建立的反散射测量仪，可用于测定材料的厚度和密度，特别适用于涂层厚度的测量。快中子与轻元素碰撞，能量迅速降低，待分析材料中如含氢丰富，中子慢化程度就高。根据此原理建立了中子测水分和中子测井(石油)技术。活化低能β粒子与适当的磷光体作用可以发光，根据这种效应已经制成了氚发光粉和氚灯。低能光子可以激发元素发射特征X射线,利用配有同位素低能光子源的X射线荧光分析仪可进行元素分析。放射性核素发射的α粒子和高能γ射线，可诱发轻元素原子核发生(α,n)、(γ,n)核反应。利用这些核反应制成的中子源可用于元素的中子活化分析。自贡大面积表面污染仪

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